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離子遷移測(cè)試儀的測(cè)試方法
點(diǎn)擊次數(shù)：2076  更新時(shí)間：2021-06-28
  離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。離子遷移測(cè)試儀是評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測(cè)試方法，將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中，并在相鄰的兩個(gè)絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓（偏置電壓），在長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試條件下，檢測(cè)兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。將測(cè)試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時(shí)間，將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出，進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，這是一種間斷式的測(cè)試方法。

  有效的離子遷移測(cè)試，需要將測(cè)試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測(cè)試設(shè)備上，在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試，同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測(cè)測(cè)試樣品上的泄漏電流。

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